jesd22a119

JESD22-A119.NOVEMBER2004(Reaffirmed:September2009).JEDECSOLIDSTATE...JESD22-A119.ThepurposeofthisformistoprovidetheTechnicalCommitteesof ...,低温试验.LTST.GB/T2423.1.JESD22-A119.评定产品承受长时间低温应力作用的能力。高压蒸煮.PCT.JESD22-A102.评定产品封装的抗潮湿能力。高速老化寿命试验.,DocumentHistory.JEDECJESD22-A119A.currentlyviewing.October2015.LOWTEMPERATURESTORAGELIFE.MostRecent.JEDECJESD22...

參考資訊如下
Low Temperature Storage Life JESD22

JESD22-A119. NOVEMBER 2004 (Reaffirmed: September 2009). JEDEC SOLID STATE ... JESD22-A119. The purpose of this form is to provide the Technical Committees of ...

可靠性试验项目

低温试验. LTST. GB/T 2423.1. JESD22-A119. 评定产品承受长时间低温应力作用的能力。 高压蒸煮. PCT. JESD22-A102. 评定产品封装的抗潮湿能力。 高速老化寿命试验.

JEDEC JESD22

Document History. JEDEC JESD22-A119A. currently viewing. October 2015. LOW TEMPERATURE STORAGE LIFE. Most Recent. JEDEC JESD22-A119 (R2009). November 2004

JEDEC温度条件试验标准整理汇总

2021年11月19日 — JESD22-A119. 低温存储寿命试验. 说明：. 在不加任何偏压情况下，藉由仿真低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力，此试验过程不施加偏压，试验 ...

LOW TEMPERATURE STORAGE LIFE - JESD22

JESD22-A119A. Published: Oct 2015. Status: Reaffirmed> May 2021. The test is applicable for evaluation, screening, monitoring, and/or qualification of all ...

ChiP Environmental Qualification Testing Standards

2015年3月30日 — JESD22–A119. All Grades. Random Vibration. MIL-STD-810G. Military Grade ... JESD22–A119. Test condition: -65ºC, Non Biased. Test duration: 1000 ...

长电科技

JESD22-A103, 评价产品长期承受高温应力的能力. 低温储存测试（LTST）, GB/T 2423.1. JESD22-A119, 评价产品长期承受低温应力的能力. 压力锅测试（PCT）, JESD22-A102 ...

ASCQxxxx Series Reliability Data Sheet

2023年3月17日 — JESD22-A103. TA = 100°C for 1000 hours. 56. 0. Low Temperature Storage Life. JESD22-A119. TA = –40°C for 1000 hours. 56. 0. Temperature Humidity ...

SPECIFICATION 產品規格書

JESD22-B106. 170±5 oC. 10 sec. 0/100. 2. Thermal Shock. 冷熱衝擊. JESD22-A104. -40 ... JESD22-A119. -40 oC. 1000 Hrs. 0/100. 5. Temperature Cycle Test. 高低溫迴圈.

JEDEC JESD22-A119

标准号: JEDEC JESD22-A119-2004; 发布: 2004年; 发布单位: (美国)固态技术协会,隶属EIA. 适用范围: 该测试适用于所有固态器件的评估、筛选、监控和/或鉴定。